透過型分析電子顕微鏡：JEM-ARM200F (JEOL)

金属クラスターの原子ひとつひとつを低加速電圧(40, 60, 80 kV)でも識別可能な、球面収差補正を備えた高分解能透過型電子顕微鏡(TEM)です。エネルギー分散型Ｘ線分光(EDS)を高感度で行うための大口径SDDを2基備えており、1nmの金属クラスターに含まれる元素を同定する能力があります。
※物質・デバイス領域共同研究拠点（施設・設備利用）対応

NMR：AvanceIII 400 (Bruker)

オートサンプルチェンジャー装備で、通常の1H測定のほか、時間のかかる多核やNOESY、DOSYなどの２次元測定を夜間に自動で行うこともできます。通常の4mmチューブ以外に、微量測定が可能な1.7mmチューブ用のプローブもあります。

ESI-TOF-MS：MicrOTOF II (Bruker)

有機化合物のHRMS(高分解)測定による組成決定や、金属クラスターの構造決定、金属錯体の同定など様々な用途に使用するESI質量分析装置です。ダイレクトプローブでTLCから直接APCI-MSスペクトルを測定したり、クライオスプレーによる不安定化合物の測定もできます。

猪股君の公聴会

D3猪股君の博士論文公聴会が行われました。

X線光電子分光装置：ESCA-3400 (島津)

X線高電子分光(XPS)により、表面元素の定性/定量分析や電子状態（価数など）の推定をするための装置です。グローブボックスに直結されており、大気に暴露させることなく測定ができます。

触媒分析装置：BelCAT (日本ベル)

TPD分析による触媒活性評価や、パルス測定によるガス吸着量の定量など、触媒に関わる様々な実験ができます。

ガスクロマトグラフィー質量分析計：GCMS (島津)

触媒反応の生成物同定や定量をするためのGCMSです。液相合成の生成物をバッチ分析したり、反応炉からダイレクトにインジェクトすることもできます。