2018年1月30日火曜日
2017年12月29日金曜日
透過型分析電子顕微鏡:JEM-ARM200F (JEOL)
金属クラスターの原子ひとつひとつを低加速電圧(40, 60, 80 kV)でも識別可能な、球面収差補正を備えた高分解能透過型電子顕微鏡(TEM)です。エネルギー分散型X線分光(EDS)を高感度で行うための大口径SDDを2基備えており、1nmの金属クラスターに含まれる元素を同定する能力があります。
※物質・デバイス領域共同研究拠点(施設・設備利用)対応
NMR:AvanceIII 400 (Bruker)
ESI-TOF-MS:MicrOTOF II (Bruker)
2017年12月27日水曜日
2017年12月24日日曜日
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