透過型分析電子顕微鏡：JEM-ARM200F (JEOL)

金属クラスターの原子ひとつひとつを低加速電圧(40, 60, 80 kV)でも識別可能な、球面収差補正を備えた高分解能透過型電子顕微鏡(TEM)です。エネルギー分散型Ｘ線分光(EDS)を高感度で行うための大口径SDDを2基備えており、1nmの金属クラスターに含まれる元素を同定する能力があります。
※物質・デバイス領域共同研究拠点（施設・設備利用）対応